Secondary Ion MS的意思|示意

二次离子质谱 5.2.4 快原子轰击（fast atom bombardment, FAB）和 二次离子质谱（secondary ion MS, SIMS） FAB：是一种广泛应用的软电离技术。快原子轰击利用的重 原子一般为Xe 或Ar。

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二次离子质谱仪 _质谱综合讨论 MS, GD-MS) 激光微探针质谱仪(Laser Microplobe MS, LM-MS) 二次离子质谱仪（Secondary Ion MS, SIMS） 感应耦合等离子体质谱仪（ICP-MS）的组成及工作原理 ICP-MS是利用感应耦合等离子体作为离...

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