atomic force microscope的意思|示意
原子力显微镜
atomic force microscope的用法详解
Atomic force microscope(原子力显微镜)是一种非常精确的显微技术。它能够提供比传统显微镜更高的分辨率,使研究人员能够更准确的观察到样品的微小细节。
Atomic force microscope也称为AFM,它是一种由纳米技术制造的显微镜。AFM可以测量细胞或微量样品的尺寸,形状,粗糙度和表面状态等,甚至可以分析动态表面活动,如单细胞活动和分子结构变化。尽管AFM可以放大和提供高分辨率的照片,但它也是静态的,只能提供静态映像,而不能实时观察到样品的动态表面过程。
AFM通常用于物理,化学,材料和生物科学的实验研究,可以用来检测纳米材料,单细胞蛋白质,蛋白质分子,细菌等。它也是一种可以直接观察到基于分子结构的研究中必不可少的工具。
AFM技术可以用来直接可视化微小表面力学性质,如表面张力,摩擦和润滑性等,从而获得细微差别并准确测量样品表面之间的交互作用。
最后,Atomic force microscope是一种极其精确的显微技术,它可以提供更高的分辨率,使研究人员能够更准确的观察微小样品的细节,获得更多的细微差异,从而进行更精确的科学研究。
atomic force microscope相关短语
1、 Atomic Force Microscope AFM 原子力显微镜
2、 AFM-Atomic Force Microscope 原子力显微镜
3、 conductive atomic force microscope 导电原子力显微镜
4、 afm atomic force microscope 原子力显微镜
5、 Metrological atomic force microscope 计量型原子力显微镜
6、 atomic force microscope nanoindentation 原子力纳米压痕
7、 electrochemical atomic force microscope 电化学原子力显微镜
8、 tunneling type atomic force microscope 隧道电流型原子力显微镜
9、 Atomic force microscope tip AFM针尖
atomic force microscope相关例句
Deposit - dip - spin ( DDS ) coating method, a composite nano - powder sample preparation method for atomic force microscope ( AFM ) measurement is introduced.
介绍了一种改进旋涂法 —— DDS 涂膜法 ( Deposit-Dip-Spin-coating), 主要用来制备纳米粉体原子力显微镜 ( AFM ) 分析样品.
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Preparation methods for biological sample imaged with atomic force microscope ( AFM ) are reviewed and explored.
用原子力显微镜(AtomicForce Microscope, AFM)和电化学方法研究免疫球蛋白G ( IgG ) 和抗免疫球蛋白G抗体 (Anti-IgG).
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The paper introduces the principle and characteristic of atomic force microscope ( AFM ).
介绍了原子力显微镜 ( AFM ) 的原理及特点.
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Atomic force microscope ( AFM ) is one of the newest imaging techniques in the field of biomedicine.
原子力显微镜 ( AFM ) 是目前最新的生物成像技术之一.
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Atomic force microscope molecular imaging and nanometer manipulation will be widely applied on biomedicine.
原子力显微镜分子成像和纳米操纵技术在生物医学中具有广阔的应用前景.
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Force curve measured by Atomic Force Microscope needs to be converted into force - displacement curve for application.
原子力显微镜测定的力曲线需转化为力位移曲线来应用.
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