conductive atomic force microscopy的意思|示意
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导电原子力显微镜
conductive atomic force microscopy的网络常见释义
导电原子力显微镜 结合紫外可见(ultra violet-visible,UV-Vis)吸收光谱、荧光光谱和导电原子力显微镜(conductive atomic force microscopy,C-AFM)对化合物A和化合物B薄膜的光学性质以及微区电子传输行为进行了研究.
显微镜 导电原子力显微镜(Conductive Atomic Force Microscopy)是最近几年来成长起来的一种可以丈量纳米标准下的描写和电学特征的丈量仪器。