wafer level Test and burn-in的意思|示意
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晶圆水平测试和磨光
wafer level Test and burn-in的网络常见释义
晶圆测试和老化 晶圆测试和老化(Waferlevel Test and burn-in) 晶圆测试和老化（简称WLTBI）指对半导体器件在未包装之前进行电气测试和老化。